近日，新思科技 (Synopsys, Inc.，纳斯达克股票代码：SNPS)宣布成功在三星先进FinFET技术节点上部署新思科技Yield Explorer®良率学习平台，用于加速新产品的量产。使用Yield Explorer中的安全数据交换机制，三星能够与用户共享用于良率分析的数据，如芯片设计、晶圆厂和测试的数据，同时维护各方专有信息的机密性。

　　三星电子(Samsung Electronics)代工厂设计技术团队副总裁JY Choi表示：“用户希望我们提供快速、低成本的制造技术，以便让他们的产品满足苛刻的市场需求。使用了Yield Explorer的安全协作模式可极大地帮助我们建立与关键用户的有效合作，以快速实现目标生产良率。我们期待在加速5纳米技术节点产品量产的过程中，扩大与新思科技的合作。”

　　新思科技半导体事业部全球总经理Howard Ko表示：“良率分析是一项复杂的任务，需要来自不同组织的团队之间的协作。确定良率限制因素的速度和准确性对于实现高成本效益、高产量生产至关重要。我们很高兴与三星合作部署Yield Explorer，促进其与用户的合作，并加速新产品量产。”

　　新思科技Yield Explorer是一个综合的良率学习平台，产品和良率工程团队使用来自不同来源的数据进行根本原因分析。这些来源包括：

　　产品设计数据：布局、网表、测试诊断、静态时序分析

　　晶圆厂数据：检验、计量、晶圆允收测试(WAT)

　　产品测试数据：Bin、参数化、系统级测试

　　Yield Explorer中强大的分析引擎使用先进的机器学习和数据可视化技术，以快速的周转时间交付高质量的结果。