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三星基于新思科技Yield Explorer加速7纳米技术节点的新品量产

2019/8/7 8:00:00 来源:中国企业新闻网

导言:近日,新思科技 (Synopsys, Inc.,纳斯达克股票代码:SNPS)宣布成功在三星先进FinFET技术节点上部署新思科技Yield Explorer®良率学习平台,用于加速新产品的量产。使用Yield Explorer中的安全数据交换机制,三星能够与用户共享用于良率分析的数据,如芯片设计、晶圆厂和测试的数据,同时维护各方专有信息的机密性。

  近日,新思科技 (Synopsys, Inc.,纳斯达克股票代码:SNPS)宣布成功在三星先进FinFET技术节点上部署新思科技Yield Explorer®良率学习平台,用于加速新产品的量产。使用Yield Explorer中的安全数据交换机制,三星能够与用户共享用于良率分析的数据,如芯片设计、晶圆厂和测试的数据,同时维护各方专有信息的机密性。

  三星电子(Samsung Electronics)代工厂设计技术团队副总裁JY Choi表示:“用户希望我们提供快速、低成本的制造技术,以便让他们的产品满足苛刻的市场需求。使用了Yield Explorer的安全协作模式可极大地帮助我们建立与关键用户的有效合作,以快速实现目标生产良率。我们期待在加速5纳米技术节点产品量产的过程中,扩大与新思科技的合作。”

  新思科技半导体事业部全球总经理Howard Ko表示:“良率分析是一项复杂的任务,需要来自不同组织的团队之间的协作。确定良率限制因素的速度和准确性对于实现高成本效益、高产量生产至关重要。我们很高兴与三星合作部署Yield Explorer,促进其与用户的合作,并加速新产品量产。”

  新思科技Yield Explorer是一个综合的良率学习平台,产品和良率工程团队使用来自不同来源的数据进行根本原因分析。这些来源包括:

  产品设计数据:布局、网表、测试诊断、静态时序分析

  晶圆厂数据:检验、计量、晶圆允收测试(WAT)

  产品测试数据:Bin、参数化、系统级测试

  Yield Explorer中强大的分析引擎使用先进的机器学习和数据可视化技术,以快速的周转时间交付高质量的结果。

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