在射频(RF)测试解决方案方面取得非凡业绩的射频自动测试设备(ATE)领导者明试国际(Aemulus)今天宣布，该公司近期推出的AMB7600-S平台，由业界佼佼者选定为首选测试平台。通过上述近期推出的产品，明试国际能够展现4G LTE（长期演进）功率放大器上有效的降低测试成本。这款解决方案加上自身的嵌入式RealSmart™特点，能够使总体成本降低将近50%。

AMB7600-S于2017年9月14日在SEMICON Taiwan 2017展会中正式推展。图中由左到右为：伍尚明，明试国际总执行官；欧阳毅，汉天下电子技术有限公司副总经理；李志立，江苏长电科技股份有限公司测试厂厂长；张志成，嘉盛半导体（苏州）有限公司测试部经理；林秀鸿，明试国际远东区总经理；陈义强，明试国际高级市场总监

嘉盛半导体（苏州）有限公司是明试国际的AMB7600长期客户，该公司的测试部门经理张志成表示：“在我们与明试国际合作的上一个项目中，AMB7600射频测试系统以其‘时间分隔式多站测试技术’功能，在测试时间和成本方面拥有竞争优势。我们希望这种成功能够在我们采用AMB7600-S的下一个项目时得以复制，我们还相信RealSmart™虚拟化测试系统(VT)技术结合其RealSmart™硬件抽离技术(HAT)，将进一步降低测试成本和投资。”

江苏长电科技股份有限公司电路测试厂厂长李志立在赞同张志成的观点时说：“我们在工厂运行着多个AMB7600系统，并且‘时间分隔式多站测试技术’证明了自身价值，从而成为我们首选的射频测试系统。AMB7600-S 将会是我们未来平台的首选，我们还希望同时进一步降低测试成本，加快产品上市时间。”

明试国际在SEMICON Taiwan 2017（2017年台湾国际半导体展）上推出AMB7600-S，张志成、李志立和汉天下电子技术有限公司副总经理欧阳毅皆参与其中。欧阳毅称：“我们决定与明试国际就我们的一个项目开展合作，这是因为AMB7600-S是一项不错的投资。RealSmart™技术为我们提供更加全面的配套；其体积小，测试时间较快并能针对未来项目进行轻松升级。”

AMB7600-S是第三代射频前端模块(FEM)测试系统，旨在兼顾成本和资源效益。AMB7600-S能够进行拓展，覆盖更多的复杂射频设备。依托嵌入的RealSmart™虚拟化测试系统、RealSmart™硬件抽离技术和RealSmart™工业4.0框架，AMB7600-S将提供更好的智能和强大的预测算法，从而最终保持最好的设备运营效率(OEE)。

明试国际总执行官伍尚明则称：“在对我们客户的体验进行多层面评估之后，我们决定开发崭新的测试技术，这种技术不仅要能符合客户的需求，还要兼顾科技的转变。我们非常高兴得到了不俗的反应。”